三星HBM4E良率突破70% 第七代AI内存开发进入稳定阶段

，7月1日，三星电子首席技术官兼半导体研究所所长在DS(器件解决方案)部门内部经营说明会上表示，HBM4E的可靠性测试良率已提升至70%以上。业界通常将80%以上视为工艺稳定的&#…